為什么晶振會(huì )失效，是什么原因導致的？

3、負性阻抗過(guò)大或太小都會(huì )導致晶振不起振（調節外接電容，如圖中C1C2，一般而言，負性阻抗值應滿(mǎn)足不少于晶振標稱(chēng)最大阻抗3-5倍。負性阻抗過(guò)大，可以將晶振外接電容Cd和Cg的值調大來(lái)降低負性阻抗）

4、激勵電平過(guò)大或者過(guò)小導致晶振不起振；通過(guò)調整電路中的Rd的大小來(lái)調節振蕩電路對晶振輸出的激勵電平。一般而言，激勵電平越小越好，處理功耗低之外，還跟振蕩電路的穩定性和晶振的使用壽命有關(guān)。

二、質(zhì)量：晶振制造問(wèn)題

1、內部水晶片破裂或損壞導致不起振

2、晶振內部水晶片上附有雜質(zhì)或者塵埃等導致晶振不起振

三、使用：

1、焊接時(shí)溫度過(guò)高或時(shí)間過(guò)長(cháng)，導致晶振內部電性能指標出現異常而引起晶振不起振

2、儲存環(huán)境不當導致晶振電性能惡化而引起不起振

3、EMC問(wèn)題導致晶振不起

當使用時(shí)發(fā)現晶振不起振，一般從以上三點(diǎn)找原因即可，若出現停振，則要看看是否發(fā)燙，從而可能是激勵電平過(guò)高的原因；抑或是晶振在工作逐漸出現停振現象，用手碰觸或者用電烙鐵加熱晶振引腳又開(kāi)始工作，則一般原因為振蕩電路中的負性阻抗值太小，需要調整晶振外接電容Cd和Cg的值來(lái)達到滿(mǎn)足振蕩電路的回路增益。

晶振在使用和貯存過(guò)程中，隨著(zhù)時(shí)間的變化而出現老化現象，通過(guò)對成品的解剖和原材料、制造工藝的分析，應用掃描電子顯微鏡的觀(guān)察，初步認為失效的晶振頻率穩定性差是由使用的原材料不當、石英晶片表層清潔處理不良、表層污染、蒸發(fā)的銀膜層附著(zhù)性差因素造成的。